|
Figure. III.3 : Cônes de
diffraction des électrons.
Formation de lignes
de Kikuchi sur un écran de phosphore
|
|
16
Chapitre II : Textures de déformation et de
recristallisation
II.3.1. Diffraction des rayons X
Laue et ses collaborateurs, sont les premiers qui ont
obtenu Le premier diagramme de diffraction des RX en 1912. Cette technique a
été évoluée rapidement, surtout après le
développement des méthodes de mesures des intensités.
Plusieurs méthodes ont été proposées : Laue,
cristal tournant et Debye- Scherrer ; cette dernière a souvent
été utilisée pour mettre en évidence de
façon semi-quantitative la présence de textures, à partir
de la hauteur des raies de diffraction.
II.3.2. La diffraction des électrons
rétrodiffusés (EBSD)
L'EBSD (Electron Back Scattering Diffraction) est une
technique locale utilisée pour déterminer les
orientations cristallographiques, sur la surface des échantillons
massifs (profondeur d'interaction est de 20 à 30 nm). Elle est
couplée au Microscope Electronique à Balayage
(MEB).
Cette technique utilise un faisceau d'électrons
; les électrons rétrodiffusés, canalisés
par les plans cristallins forment une figure caractéristique
constituée de pseudo-lignes de Kikuchi (Fig.III.3). La figure obtenue
fournit des informations sur la symétrie, la qualité et
l'orientation du réseau cristallin. La canalisation est
souvent utilisée pour déterminer l'orientation
cristallographique d'une structure monocristalline ou la désorientation
entre les grains d'un polycristal et aussi déterminer la
fraction recristallisée d'un matériau [10,
11].
| 
