Chapitre II : Textures de déformation et de
recristallisation
1
Ou Ag =
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sin(0)dcIdO dW (formalisme de Roe) (II.15)
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2
ð
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15
La fonction f(g) peut être calculée par
la méthode harmonique ou les méthodes discrètes. La
méthode harmonique s'appuie sur un développement de
séries des bases harmoniques avec un ordre imposé par le
nombre de figures de pôles expérimentales. Elle a
été proposée par [5] et Roe [3]. La méthode
discrète qui est développée par Ruer et Baro [6] et par
Matthies [7] et Schaeben [8], elle consiste à associer un point
(ou ensembles des point) de l'espace des pôles à
un point de l'espace des orientations après avoir discrétiser ces
deux espaces.
III.3. TECHNIQUES DE CARACTERISATION
Généralement les textures sont
caractérisées par plusieurs techniques, on peut les classer dans
deux catégories : des techniques globales qui
s'intéressent aux grandes plages (population des grains) et des
techniques locales qui s'intéressent aux grains individuels (grain par
grain).
Parmi les méthodes globales on trouve
:
· La diffraction des rayons X.
· La diffraction des neutrons. Parmi les
méthodes locales on trouve :
· Les diagrammes de la diffraction des
électrons rétrodiffusés (EBSD) lié au microscope
électronique à balayage.
· La diffraction des
électrons.
Couramment les techniques les plus utilisées
pour déterminer les textures dans les matériaux sont la
diffraction des rayons X et la diffraction des électrons
rétrodiffusées. Dans ce travail nous nous sommes
intéressés à la diffraction des rayons X, car cette
technique est plus statistique (surface analysée grande de
l'ordre de cm2). D'autre part, elle a un
profondeur de pénétration de l'ordre de
mm, elle facilite l'analyse contrairement à
l'EBSD qui ne donne pas une bonne indexation des
clichés de diffraction pour les fortes déformations orientations
[9].
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