So mmaire
Introduction générale 1
Chapitre 1 : Introduction aux antennes à
réseaux réflecteurs 4
1 Propriétés des antennes à réseaux
réflecteurs 4
1.1 Généralités 4
1.2 Avantages et inconvénients 5
1.3 Principe de fonctionnement 6
2 Solutions de cellules déphaseuses en technologie
imprimée 7
2.1 Principe d'utilisation des patchs 7
2.2 Ajout des stubs 8
2.3 Utilisation de la technologie multicouche 8
2.4 Les nouvelles technologies 9
3 Les outils de simulation 10
3.1 Le logiciel HFSS 10
3.1.1 Généralités 10
3.1.2 Méthode des éléments finis 11
3.2 La FDTD 11
4 Conclusion 12
Chapitre 2 :Les approches de simulation et de
mesure 14
1 Introduction 14
2 Les approches développées 14
2.1 La technique Floquet 14
2.1.1 Principe 14
2.1.2 Floquet / HFSS 15
2.1.3 Floquet / FDTD 17
2.2 L'approche cellule isolée 18
2.3 L'approche cellule environnée 19
2.4 La technique guide d'onde 20
3 Conclusion 21
Chapitre 3 :Calcul des angles et du champ
incident 23
1 Introduction 23
2 Position du problème 23
2.1 Calcul des angles 24
2.1.1 Calcul de (è i
,ö i ) 24
2.1.1.1 Méthode géométrique : 25
2.1.1.2 Méthode par changement de repères : 25
2.1.2 Calcul de (è' i
,ö' i ) 27
2.1.2.1 Méthode géométrique 27
2.1.2.2 Méthode par changement de repères 28
2.2 Définition du vecteur champ électrique
incident 30
2.2.1 Représentation du champ incident en projection
32
3 Conclusion 33
Chapitre 4 :Simulation de cellules
déphaseuses en incidence quelconque 35
1 Introduction 35
2 Procédure de caractérisation des cellules
déphaseuses en terme de matrice de réflexion 36
2.1 La polarisation 36
2.2 Radiations surfaces et PML 36
2.3 Conditions périodiques 36
2.4 Plans de mesure 37
2.5 Procédure de calcul (post-traitement) 38
3 Résultats et Validation de la procédure 40
3.1 Simulation sur un plan de masse 40
3.2 Simulation de cellules tirées du réseau
réel 42
3.2.1 Cellule simple patch chargée par une fente 42
3.2.1.1 Incidence normale : 43
3.2.1.2 Incidence oblique : 47
3.2.2 Cellule double patch chargée par deux demi fentes
50
4 Conclusion 52
Conclusion générale et perspectives 53
Bibliographie 54
Annexe 56
Chapitre 1
Introduction aux antennes à réseaux
réflecteurs
Introduction aux antennes à réseaux
réflecteu rs
1 Propriétés des antennes à
réseaux réflecteurs
1.1 Généralités
Une antenne réseau réflecteur est, comme son nom
l'indique, une combinaison entre le concept d'antennes réflecteurs et
celui d'antennes réseaux. Un réseau réflecteur est
constitué d'une source principale qui éclaire le réseau
imprimé. Ce dernier, dans sa forme la plus simple, n'est autre qu'un
réseau planaire de patch microstrip imprimé sur un substrat
plaqué sur un plan de masse (figure 1.1).
Figure. 1.1. Antenne réseau réflecteur
Le réseau est conçu pour que l'onde
réfléchie par chacun de ces éléments rayonnants
soit une onde plane, déphasée par rapport à la source
principale [Pozar97, Huang95]. De ce fait, ce réflecteur réseau
plan permet de contrôler et de rediriger en phase le re-rayonnement de la
source primaire dans la direction souhaitée (figure 1.2).
Figure. 1 .2.Principe de fonctionnement d'un réseau
réflecteur
Ainsi, l'utilisation des réseaux réflecteurs repose
sur la compacité (taille, poids), le coût de fabrication et la
possibilité d'avoir un faisceau orientable (reconfigurable).
1.2 Avantages et inconvénients
Les deux technologies utilisées dans la conception des
réseaux réflecteurs possèdent chacune leurs avantages et
inconvénients. Dans le cas des antennes réseaux, l'avantage
majeur est de pouvoir contrôler la pondération en amplitude et en
phase de chaque élément du réseau, et de permettre de
maîtriser la direction de l'onde émise et la forme du faisceau. En
plus, un contrôle électronique de chaque élément du
réseau autorise des vitesses de balayage très rapides.
L'inconvénient de cette technologie réside néanmoins dans
la complexité du circuit d'alimentation et dans les pertes induites.
Dans le cas des antennes à réflecteur, le problème du
réseau d'alimentation est résolu par l'utilisation d'une source
primaire unique illuminant le réflecteur. En contrepartie, il existe des
difficultés technologiques telles que le poids de l'antenne et le
dépointage mécanique de l'antenne [Girard03].
En outre, l'antenne réseau réflecteur combine les
avantages des deux technologies citées précédemment.
Ainsi, elle fonctionne avec une source primaire unique qui éclaire le
réflecteur plan (ce qui évite la mise en place d'un circuit
d'alimentation complexe et dissipatif). Etant donnés que, les
éléments rayonnants du réseau, appelés cellules
déphaseuses, re-rayonnent en phase l'énergie émise par la
source dans la direction souhaitée. Donc, les propriétés
de l'onde ré-émise seront commandées par la loi de phase
générée par le réseau. Cette loi de phase
correspond à la phase synthétisée par chaque cellule.
Ainsi, le re-rayonnement de l'onde émise peut subir des
dépointages importants sans jouer sur la position du réflecteur.
Cette loi peut également être utilisée pour
générer un diagramme de rayonnement de l'antenne
conformément à un gabarit donné. On peut noter que la
taille du réseau fixera la directivité maximale. Le pas du
réseau est choisi, quant à lui, en fonction des lobes de
réseau et du dépointage à affecter pour l'onde
ré-émise. Il reste après avoir pris en compte de ces
contraintes, imposées par les structures de l'antenne, à
définir la source primaire.
1.3 Principe de fonctionnement
Une antenne réseau réflecteur est donc
composée d'une source primaire qui illumine une surface
réflectrice contenant un réseau de cellules déphaseuses.
Ces cellules vont re-rayonner l'énergie provenant de la source. Cette
énergie totale ne sera pas re-rayonnée en phase si tous les
éléments constitutifs du réseau sont identiques. Ceci est
du au fait que pour une surface réflectrice plane, le champ qui se
propage de la source primaire vers les éléments rayonnants
effectue des trajets différents (figure 1.2). En effet, si chacune des
cellules constituant le réseau est capable de fournir une phase
ajustée pour compenser les différences du trajet, le champ total
re-rayonné aura une phase identique pour chaque cellule dans l'axe
(direction de l'axe perpendiculaire au réseau). Pour cela, pour couvrir
cette plage de compensation, la réponse en phase des cellules
déphaseuses doit dépendre d'un paramètre (la longueur de
patch, la longueur des stubs, l'épaisseur du substrat...). Ainsi, la loi
de phase est la capacité d'une cellule à pouvoir
générer une valeur de phase en fonction d'un paramètre
lié à la cellule.
Ce concept de compensation des phases a été
introduit depuis de nombreuses années avec l'utilisation
d'éléments rayonnants tels que des cornets, des dipôles, et
des guides d'onde [Huang91, Girard03, Huang96]. Mais, ces structures sont
encombrantes et lourdes. Cependant, l'utilisation des technologies
réseaux imprimés a permis la fabrication d'antenne réseau
réflecteur plus légère, moins encombrante et à
moindre coût. Depuis lors, de nombreuses études
portant sur le développement de cellules
déphaseuses imprimées ont été investiguées
[Girard03, Alex02]. Une méthode consiste à utiliser des patchs
microruban de la même dimension, chaque cellule pouvant être
chargée par un stub de longueur variable [Girard03]. D'autres solutions
ont été développées en jouant sur la dimension des
patchs [Chenakin97] ou en changeant l'épaisseur du substrat de
manière à contrôler le déphasage
[Encinar99,Encinar01]. Dans chacun de ces cas, le dimensionnement des cellules
est déterminant pour les performances.
2 Solutions de cellules déphaseuses en
technologie imprimée
Les solutions développées, dans notre laboratoire,
pour la réalisation des cellules déphaseuses sont principalement
basées sur l'utilisation de patchs résonnants.
2.1 Principe d'utilisation des patchs
En variant les dimensions de l'élément
rayonnant, nous pouvons contrôler le déphasage (figure 1.3).
Ainsi, pour une onde incidente sur le réseau de patch à taille
variable, la phase de l'onde réfléchie varie avec les dimensions
du patch. En effet, la variation des dimensions du patch suivant l'orientation
de la polarisation de l'onde incidente, oblige les courants induits sur ce
dernier à parcourir un chemin variable changeant ainsi la longueur
résonnante du patch.
patch
a1 a2>-a1
a3>-a2
Figure.1.3. Réseau de patchs à taille variable
Cette longueur de résonance est inversement liée
à la fréquence de résonance du patch. Donc, la variation
de cette fréquence de résonance conduit à la variation de
la phase re-rayonnée par le patch. Cette phase dépend alors du
chemin parcouru sur le patch.
2.2 Ajout des stubs
Parmi les solutions envisagées pour la
réalisation de cellules déphaseuses, nous pouvons décrire
celle qui consiste à ajouter un tronçon de ligne à
l'élément résonnant [Chenakin97]. Ainsi, le contrôle
du déphasage s'effectue par la variation de la longueur du stub (figure
1.4).
stubs
Figure. 1.4. Réseau de patchs et stubs
patch
Cette technique est limitée en bande de fréquence,
due à la faible bande du stub, et présente un encombrement sur la
maille des cellules.
2.3 Utilisation de la technologie multicouche
C'est une méthode qui consiste à avoir un
réseau multicouche de patchs de différentes tailles [Encinar01,
Agustin03]. Elle permet de couvrir une gamme importante (supérieure
à 360°). Sur chaque couche de substrat est gravé un
réseau de patchs et donc, dans chaque maille du réseau plusieurs
cellules déphaseuses positionnées les unes en dessous des autres
(figure 1.5). Le principe de cette méthode consiste à
séparer les fréquences de résonance de chaque cellule et
les faire résonner les unes après les autres ce qui permet
d'avoir des gammes de phases supérieures à 700°.
Figure. 1.5 Patch multicouche
Néanmoins, les technologies multicouches utilisées
restent difficiles à mettre en oeuvre et le coût de fabrication
est relativement élevé.
2.4 Les nouvelles technologies
Les solutions citées précédemment
fournissent des lois de phase fixes. Actuellement, on s'oriente vers des
solutions re-configurables. C'est en pilotant les phases de chacun des
éléments du réseau de manière indépendante
qu'on obtient des réseaux réflecteurs re-configurables. Ainsi le
faisceau de l'antenne n'est plus fixe mais orientable. Pour ce faire, les
techniques passives de déphasage citées
précédemment sont transposables moyennant l'introduction
d'éléments actifs (figure 1.6) tels que : diodes [Agustin03],
varactors [Agustin03], MEMS [Girard03]...).
MEM S micocommutateur
Figure. 1 .6.Cellule déphaseuse active avec MEMS
Des études précédentes menées par
divers projets en collaboration avec la société Alcatel Space,
l'Agence Spatiale Européenne et bien évidemment notre laboratoire
IETR, ont montré la nécessité d'outils de simulation pour
le dimensionnement des réseaux réflecteurs
(caractérisation des cellules déphaseuses). De ce fait, nous
distinguons pas mal d'outils de simulation, en particulier, le logiciel
commercial HFSS (High Frequency Structure Simulation) d'Ansoft et un code
basé sur la méthode des Différences
Finies dans le Domaine
Temporel (FDTD) développé au sein de notre
laboratoire IETR.
3 Les outils de simulation
3.1 Le logiciel HFSS
3.1.1 Généralités
H.F.S.S est un simulateur électromagnétique de
haute performance pour les modèles en 3D. Il intègre des
simulations, des visualisations et une interface automatisée facile
à utiliser pour résoudre rapidement et de façon efficace
les problèmes électromagnétiques en 3D. Son code de calcul
est basé sur la méthode des éléments finis
(méthode fréquentielle), des graphiques performants pour donner
à l'utilisateur des résultats et une perspicacité aux
problèmes électromagnétiques en 3D.
Une croissance H.F.S.S peut être utilisée pour
calculer des paramètres tels que les paramètres S, les
fréquences de résonance et les champs. C'est un outil permettant
le calcul du comportement électromagnétique d'une structure. Le
simulateur possède des outils de post traitement pour une analyse plus
détaillée. Il permet le calcul des :
· Quantités de base : champ proche, champ
lointain
· Impédances caractéristiques des ports et
leurs constantes de propagation
· Les paramètres S normalisés par rapport
à une impédance de port spécifique Afin de
générer une solution du champ électromagnétique,
H.F.S.S emploi la méthode des éléments finis. En
général, cette méthode divise l'espace de
résolution du problème en plusieurs milliers de régions
plus petites et représente le champ dans chaque sous région
(élément) avec une fonction locale.
3.1.2 Méthode des éléments
finis
La géométrie du modèle,
étudié sous H.F.S.S, est automatiquement divisée en un
grand nombre de tétraèdres. La valeur d'un vecteur champ (E ou H)
en un point à l'intérieur d'un tétraèdre est
calculée par interpolation des valeurs des champs dans les sommets du
tétraèdre. Ainsi, en représentant les valeurs des champs
de cette manière, H.F.S.S transforme les équations de Maxwell en
équations matricielles qui sont résolues par les méthodes
numériques classiques. En divisant la structure en plusieurs petites
régions, H.F. S. S calcule les champs séparément dans
chaque élément en fixant des critères de convergence. Plus
les éléments sont petits, plus la solution est précise
mais plus le temps de calcul est long.
3.2 La FDTD
C'est une méthode basée sur la résolution
des équations de Maxwell. Ces équations sont conçues pour
décrire la création et la propagation d'une onde
électromagnétique dans un milieu bien déterminé. La
méthode des différences finies temporelles est fondée sur
le schéma explicite de Yee []. Elle permet de calculer à chaque
instant discret de l'espace, les composantes du champ
électromagnétique dans chaque cellule
parallélépipédique du volume tridimensionnel (figure
1.7).
Figure. 1.7. cellule parallélépipédique
Les composantes des champs électromagnétiques sont
représentées à la figure 1.8.
Figure. 1.8. Disposition des champs
électromagnétiques
Des conditions aux limites doivent être définies
autours du volume de simulation pour le calcul des champs
électromagnétiques. Cette méthode est une méthode
de calcul volumique et donc en particulier bien adaptée à
l'étude des cellules imprimées sur des substrats. Son avantage
est la résolution 3D même de structures complexes [Taflove00].
Mais, elle nécessite de mailler tout le volume défini, ce qui
peut devenir rapidement prohibitif en terme de temps de calcul et de
matériel informatique à mettre en oeuvre. Enfin, c'est une
méthode temporelle qui permet de caractériser des structures sur
une large bande de fréquence en une seule simulation (annexe A),
[Taflove98, Taflove95].
4 Conclusion
Au cours de ce chapitre, nous avons présenté une
synthèse sur les propriétés des antennes à
réseau réflecteur tout en donnant les avantages et les
inconvénients qui découlent de leurs utilisations ainsi que les
différentes techniques utilisées pour la réalisation des
cellules déphaseuses. Ensuite, une présentation des fondements
théoriques des outils de simulation utilisés a été
élaborée. Pour cela, une idée assez complète sur
les approches développées au sein de notre laboratoire pour les
études des cellules déphaseuses sera développée
dans le chapitre suivant.
Les approches de simulation et de mesure
Chapitre 2
Les approches de simulation et de
mesure
1 Introduction
Trois techniques ont été mises au point, dans notre
laboratoire, utilisant HFSS et/ou FDTD. On peut distinguer :
v' Utilisation de parois périodiques de Floquet (HFSS et
FDTD)
v' Utilisation de l'approche dite `cellule isolée'.
v' Utilisation de l'approche dite `cellule environnée'.
De plus, une quatrième technique utilisant un guide d'onde
a est développée pour les mesures.
2 Les approches développées
Dans cette partie, nous essayons de présenter les
différentes approches développées pour l'études des
cellules déphaseuses au cours des travaux de recherche effectués
dans notre équipe.
2.1 La technique Floquet
2.1.1 Principe
Cette méthode est développée par le
mathématicien G. Floquet [Floquet1 879] afin de définir des
solutions périodiques pour ces équations différentielles.
Dans le cas général d'un volume éclairé par une
onde incidente plane, les conditions de Floquet s'expriment ainsi : le champ
incident en B est identique au champ incident en A affecté d'un
décalage temporel correspondant à la différence de chemin
entre A et B (figure 2.1).
è
A
?
B
Figure.2. 1. Volume éclairé par une onde en
incidence quelconque
La différence de chemin est ainsi ? =
AB.sin(è) et donc le décalage temporel
associé est sin().AB
dt
Où v est la vitesse de l'onde.
è
v
øB(xB,yB,zB,t)=øA
( x A,yA, z
A, t - dt ) Eq.2.1
øA(xA,yA,zA,t)=øB
( x B,yB, z
B, t + dt ) Eq.2.2
La difficulté d'exploitation des conditions de Floquet
dans le cas général d'une onde en incidence quelconque ne
provient pas du fait qu'il faille, (Eq.2.1), exprimer le champ en B en fonction
du champ en A affecté d'un retard dt. Cela se traite en stockant les
valeurs calculées du champ en A. Le calcul du champ en A à
l'instant t en fonction du champ en B, (Eq.2.2), par contre fait intervenir le
champ en B mais à un instant précédent l'instant t,
instant que l'on ne peut connaître lors du calcul à t
[Girard03]
Nous remarquons, bien évidemment, qu'en incidence normale,
les conditions de Floquet se simplifient énormément.
Cette méthode vise à simuler un réseau
infini de cellules toutes identiques à partir de la simulation d'une
seule cellule (voir figure 2.2).
Figure.2.2. Simulation de réseau infini de cellules
2.1.2 Floquet / HFSS
Le logiciel HFSS, déjà présenté,
nous donne la possibilité d'étudier des cellules
déphaseuses. En effet, l'idée se base sur le fait de
définir des `parois de Floquet' autour de la cellule sous test pour
créer artificiellement le comportement d'un réseau infini dont
toutes les cellules sont identiques, ce qui permet d'étudier l'effet de
couplage entre les cellules voisines. Pour ce faire, nous avons crée une
boite à six faces où on met la cellule sous test (figure 2.3).
Les quatre faces entourant la cellule sont définies comme des parois
périodiques (de Floquet) et la face supérieure comme une surface
d'excitation pour appliquer le champ incident. La dernière
face est celle appliquée sous le substrat, correspond
au plan de masse. Pendant [CadoretF05, CadoretM05], le champ rayonné
évalué est celui en champ lointain. Il est calculé en
utilisant une sphère infinie définie à l'aide du logiciel
et donc on peut récupérer la phase du champ lointain de
façon spéculaire et donc de définir la réponse en
phase de la structure sous test.
sphére infinie
surface d'excitation
y
x
conditions périodiques de floquet
cellule sous test
z
y
x
plan de masse
substrat
Figure.2.3. Utilisation de parois de Floquet sous HFSS
L'avantage majeur du logiciel HFSS est la rapidité des
calculs effectués et la facilité de son utilisation. De plus,
c'est une technique qui nous permet de faire des études
paramétriques. Ainsi, c'est une approche performante à exploiter
pour fournir des bases de données et elle peut être
généralisée dans le cas d'une incidence quelconque qui
sera le but de notre travail. Néanmoins, cette méthode
possède pas mal de limitations dues à l'utilisation des
conditions périodiques. En effet, le réseau simulé est un
réseau infini périodique de cellules toutes identiques. Or, en
réalité, chaque cellule est entourée de voisines aux
dimensions différentes et donc on ne prend pas en compte
réellement des effets de couplage. De plus, les résultats en
phase ne sont pas réellement exploitables en dehors de la direction
spéculaire de rayonnement.
2.1.3 Floquet / FDTD
Comme nous venons de le voir au premier chapitre, la
méthode F.D.T.D est basée sur la résolution des
équations de Maxwell. Un code FDTD doit être
développé pour la définition du volume de calcul et pour
prendre en compte des conditions absorbantes ou dans notre cas les conditions
périodiques de Floquet. Cette méthode reprend la même
façon de définir les parois entourant la cellule sous test
(parois de Floquet) et la paroi d'excitation au dessus de la cellule
(figure2.4) En plus, une surface placée au dessus de celle d'excitation
est dite surface de Huygens car nous appliquons sur cette surface le principe
d'équivalence de Huygens [Alex02]. En d'autres termes, le volume F.D.T.D
délimité la surface de Huygens, dans lequel nous retrouvons les
vecteurs de champs et de courants électriques et magnétiques dus
au rayonnement de la source, est équivalent à la surface de
Huygens, où sont définis des courants magnétiques et
électriques équivalents.
surface de Huygens
Surface d'excitation
z
conditions périodiques de floquet
cellule sous test
y
x
plan de masse
substrat
y
x
Figure.2.4 Utilisation de parois de Floquet (méthode
FDTD)
C'est à partir de ces courants que nous
déduisons les potentiels vecteurs pour le calcul des champs. Ainsi, la
méthode temporelle du calcul F.D.T.D permet des études en
fréquence et ce code développé dans notre laboratoire nous
permet de prendre en compte de parois de Floquet
mais ce code F.D.T.D reste ergonomique et la définition du
maillage de structures compliquées laborieuse.
2.2 L'approche cellule isolée
Pour observer le re-rayonnement d'une cellule sous une
incidence quelconque, nous avons choisi de la simuler à l'aide de la
méthode FDTD puisque, avec l'utilisation des parois de Floquet sous
HFSS, nous ne pouvons pas chercher les résultats de re-rayonnement en
dehors de la réflexion spéculaire. Néanmoins, ce choix
introduit une hypothèse simplificatrice qui consiste à ne pas
considérer les effets de couplage. La figure 2.5 montre que la paroi
d'excitation entoure toute la cellule sous test. Cette surface d'excitation
génère une onde plane en incidence quelconque.
surface d'excitation
surface d'Huygens
surface d'Huygens surface d'excitation
z
y
z0x plane
x
plan de masse cellulaire unitaire
substrat
polarisation de l'onde incidente
PMLs
Figure.2.5 Méthode de simulation FDTD d'une cellule
unitaire
Le champ total re-rayonné est
récupéré en champ proche à l'aide de la surface de
Huygens définie et le champ lointain dans toutes les directions est
alors déduit de ces résultats en champ proche
[Cadoret04,CadoretM05,Milon06]. Ceci permet d'accéder au diagramme de
rayonnement de la cellule isolée sous incidence quelconque et donc
à caractériser son fonctionnement. Ainsi, cette méthode
permet de fournir une base de données, un temps de simulation
réduit ainsi qu'un calcul du rayonnement dans n'importe quelle direction
et sous n'importe quelle incidence. Toutefois, cette méthode
néglige l'effet de couplage puisque seule la cellule est
étudiée.
2.3 L'approche cellule environnée
Nous venons de voir que la méthode `cellule
isolée' a négligé l'effet de couplage. Pour cela, dans le
cadre de travail de thèse effectué par M-A Milon, une autre
méthode d'analyse est développée. Celle-ci consiste
à éclairer une seule cellule du réseau et à
considérer son rerayonnement en présence de ses voisines
immédiates (identiques ou non) [Milon06]. Cette méthode permet
donc de calculer le re-rayonnement d'une cellule environnée dans
n'importe quelle direction et sous n'importe quelle incidence et surtout dans
un environnement réaliste. Cette méthode, incluant plus
d'éléments, nécessite un volume d'étude plus
important et donc un temps de calcul plus important. En effet, seule la cellule
centrale est illuminée par une onde plane d'incidence . La phase de
l'onde re-rayonnée est alors calculée en prenant en compte la
(? i ,ij i )
contribution des huit cellules voisines les plus proches. Pour
cela, deux surfaces sont définies dans le volume de calcul FDTD (figure
2.6). La surface d'excitation entoure la cellule centrale et délimite le
volume dans lequel le champ incident est appliqué. La surface de
Huygens, quant à elle, qui est utilisée pour calculer le champ
re-rayonné, inclus les neuf cellules et vient se renfermer sur le plan
de masse.
a
b
cellule centarle éclairée par l'onde
incidente
a surface de Huygens
xpatch?
ypatch
b
PMLs
structure simple patch
surface d?excitation
z
surface de Huygens surface d?excitation
y
h
x
substrat
zox plan
plan de masse
polarisation de l?onde incidente
cellules voisines à la cellule centarle
Figure.2.6. Méthode de simulation FDTD d'une cellule
environnée
Ainsi, cette méthode permet d'évaluer le
couplage mutuel entre les cellules voisines, une prédiction des
diagrammes de rayonnement dans un environnement réel et une simulation
de réseau contenant des cellules différentes. C'est une technique
plus réaliste pour l'étude d'un réseau réflecteur
mais elle demande un temps de calcul plus important ainsi qu'un matériel
informatique assez puissant.
2.4 La technique guide d'onde
C'est une méthode basée sur le principe
d'utiliser un guide d'onde à la fréquence de fonctionnement
désirée et d'effectuer des mesures pour le coefficient de
réflexion de chaque cellule (amplitude et phase du champ
réfléchi). Pour cela, on réalise plusieurs cellules dont
les dimensions sont différentes, nous les positionnons ensuite au fond
du guide alternativement en mesurant à chaque fois la réponse en
phase et en amplitude de chaque coefficient de réflexion (figure
2.7).
Figure.2.7. Guide d'onde et cellules déphaseuses
positionnées
Nous traçons alors la loi de phase correspondante pour
la variation d'un paramètre de la cellule. Ainsi, c'est une mesure d'une
seule cellule dans un environnement sans interaction de cellules voisines (sans
effet de couplage). De ce fait, cette technique nous permet de valider les
principes de structures adoptées pour l'étude des cellules
déphaseuses et nous fourni une idée sur les pertes.
Néanmoins, chaque fois, nous étions amenés à
réaliser un nombre important de cellules.
A titre indicatif, que nous pouvons comparer les mesures avec
des simulations effectuées sous HFSS en remplaçant les parois de
Floquet par des murs électriques (pour avoir un environnement de guide,
figure 2.8)
port d'excitation
y
x
z
conditions périodiques de floquet
cellule sous test
y
x
plan de massse
substrat
Figure.2.8. Utilisation de murs électriques
De cette manière, nous pouvons donc comparer entre
simulation et me sure pour valider le principe des cellules
déphaseuses.
3 Conclusion
Dans le cadre général de notre travail sur la
description des différentes procédures de caractérisations
des cellules déphaseuses, nous venons de présenter les
différentes méthodes développées dans notre
laboratoire. De plus, en réalité, la réponse en phase de
chaque cellule dépend des paramètres de dimensionnement de cette
dernière mais à ceux-ci s'ajoutent les paramètres
d'illumination. De ce fait, nous nous intéressons au cours du
troisième chapitre à définir les caractéristiques
d'éclairement d'une cellule du réseau en tenant compte le
rayonnement du cornet.
Calcul des angles et du champ incident
Chapitre 3
Calcul des angles et du champ incident
1 Introduction
Un réseau réflecteur est composé, comme
nous avons vu précédemment, de cellules déphaseuses
illuminées par une source primaire. Ces dernières sont
positionnées sur une surface réflectrice. Les différences
de trajet, de la source à la surface réflectrice, vont être
compensées en phase par chaque cellule du réseau. Cette phase
doit être dépendante de la position de chaque cellule dans le
réseau. En réalité, la réponse en phase de chaque
cellule dépend des paramètres de dimensionnement de cette
dernière mais à ceux-ci s'ajoutent les paramètres
d'illumination. En effet, la cellule déphaseuse est vue sous un angle
d'incidence et une polarisation différents qui dépendent bien
évidemment de la position de cette cellule dans le réseau (annexe
B).
Ainsi, au cours de notre travail, nous avons pensé
à améliorer nos simulations en tenant compte du rayonnement du
cornet pour s'approcher d'un cas réel d'étude de réseau
réflecteur. Pour cela, nous avons besoin de définir les
caractéristiques d'éclairement d'une cellule du réseau. En
effet, nous nous plaçons dans le cadre, par exemple, de notre travail
effectué lors de ce stage (simulation à l'aide du logiciel HFSS).
La cellule (notée cellule i) est supposée éclairée
par une onde plane dont il faut préciser l'incidence et la polarisation.
Ces grandeurs sont définies à partir de la configuration
réelle du réseau. Pour l'incidence, nous définissons ainsi
les angles (O i , çt i )
précisant la direction sous laquelle est vu le cornet
dans le système de coordonnées sphériques associé
à la cellule i. Pour la polarisation, nous supposons que le cornet
rayonne en co-polarisation (au sens de Ludwig 3) [Ludwig73, Hansen87]. Par
conséquent, la définition de la polarisation nécessite de
travailler dans la base liée au cornet. Il faut donc définir
d'abord la polarisation dans la base liée au cornet avant de la
transposer dans la base du réseau (où la simulation de la cellule
sera faite). Ce changement de base demande entre autres de définir la
direction sous laquelle est vue la cellule i dans le système de
coordonnées sphériques
(O'i,çt'i)
attaché au cornet.
2 Position du problème
En réalité, un réseau est composé
d'un nombre important de cellules. Dans notre étude, nous nous
intéressons à un cas de réseau de 437 cellules pour une
maille de 0.7 ) 0 = 16.8 mm,
fonctionnant à une fréquence de 12.5 GHz. Chaque
cellule possède des dimensions propres à son emplacement dans le
réseau et contribue différemment en phase et en amplitude au
diagramme de rayonnement du réseau complet. (annexe B)
Nous commençons par définir la configuration
générale, en perspective, d'un réseau réflecteur et
les différents paramètres pris en compte pour pouvoir calculer
ses angles.
Le point O est le centre du réseau. Le point O' est le
centre de phase du cornet. Le point Oi représente le centre de la
ième cellule du réseau. Le système de
coordonnées ( est
O, x, y, z)
attaché au réseau et le système de
coordonnées est attaché au cornet. On note á
(O',x',y',z')
l'angle d'élévation du cornet, H sa
hauteur par rapport au plan du réseau et (x c
,y c ,z c
)les coordonnées du cornet. (figure 3.1)
O'
x'=x z' y'
H z
Oi xi yi x O y
Figure.3. 1 Configuration générale d'un
réseau réflecteur
2.1 Calcul des angles
Pour accomplir notre calcul des angles déjà
mentionnés, nous avons développé deux méthodes afin
de confirmer et de valider nos calculs ainsi fournis. En effet, nous avons
élaboré deux méthodes intitulées : méthode
géométrique (basée sur un raisonnement
géométrique) et méthode par changement de repères
(utilisation des relations entre les coordonnées sphériques et
cartésiennes).
2.1.1 Calcul de (èi,ö
i )
Les angles définis sent la direction sous laquelle est vu
le cornet dans le système de
(? i , ç, i )
coordonnées sphériques associé à la
cellule i :
H
di
O'
öi
x
li
èi
Oi
z
y
l0
á
x
O
z
y
Figure.3.2 Définition des angles (? i , ij i
)
Avec H : projeté orthogonal de O' sur le plan
(x, y) l0 : Distance cornet- cellule centrale
li : Distance cornet- cellule i
2.1.1.1 Méthode géométrique :
Dans le triangle rectangle O 'HOi ,
on peut écrire :
tg() i
è= avec di = x i
2 + (y i - y c 2
d ) d'où on en déduit :
i H
èi
)
= arctg
H
yyc i -
De même, on peut voir que :
ð x
ö = + â avec ()
i
tgâ=
i 2
ce qui nous permet d'écrire :
ð
ö = + arctg(
i 2
)
xi
yy- c i
Eq3.1
Eq3 .2
2.1.1.2 Méthode par changement de repères :
Les coordonnées du centre de la cellule i (point Oi) dans
le repère lié au centre du réseau (point O) se
déduisent de:
OO i = x i
eGx + y i
eGy
Les coordonnées cartésiennes du cornet (point O')
dans le repère lié au centre du réseau (point O) se
déduisent de :
OO' = -H tanáeG y
+ HeG z
Dès lors, les coordonnées de O' dans le
repère lié au centre de la cellule i vérifient :
'
- xi
OiO'= O i O+OO
C'est-à-dire :
' ' '
|
?
? ?
? ?
|
-
|
á
|
? ?
?
??
|
(1)
|
x i
-
yi
H tan
H
O
y i
O
z i
O
Les angles(è i
,ö i ), définissant la
direction sous laquelle est vu le cornet dans le système
de coordonnées sphériques associé à
la cellule i, se déduisent des relations entre coordonnées
cartésiennes et sphériques :
? ??
??
y = r sin
è
cos
xr =
zr =
sin
èö
cos
Eq3.3
è ö
sin
On obtient ainsi:
zO '
' '
ö i Eq3.4
xyi i '' cossin ö+
O i O
??i
?
tanè i i
Donc (Eq3.3 Eq3.4) et (1) donnent
|
tg
|
()
öi
|
y+
i
|
H
( ) tg()
á
|
|
|
D'où
x i
Ainsi :
H
( )
tg( )
á
ö = )
i
y+
i
arctg(
x i
Eq3.5
Eq3 .6
? ?
H
( ) ( )
H
ö ö
+ ? + ? i()
De même,
tg() è=
i
? ?
H
xy.cos()().sin() öö i i i i + ?
? +?? tg() á
è = -
arctg( )
i H
|
et donc
Eq3.7
Les relations (Eq3.1), (Eq3.2), (Eq3.5) et (Eq3.6)
définissent donc à partir des paramètres
(O i ,ij i )
géométriques du réseau. Ces angles sont
utilisés dans la simulation d'une cellule élémentaire pour
définir l'angle d'incidence.
2.1.2 Calcul de (è' i
,ö' i )
La même démarche s'applique pour angles
précisant la direction sous laquelle est vue
la (Oç,ijç)
cellule i dans le repère lié au cornet.
2.1.2.1 Méthode géométrique
Les angles définissent la direction sous laquelle est vue
la cellule i dans le système de
(O'i,ij' i )
coordonnées sphériques attaché au cornet
(figure.3.4).
ö'i
x' z'
y'
H
O'
Oi
è'i
á
Fig.3.3 Définition des angles (O' i ,ij'
i )
Dans le triangle quelconque OO'Oi, on a la relation suivante :
D² = l i
²+l0²-2.l0.l i
.cos(è ' i )
Avec 22
D=x i +y i et 2
2
li= ( x c - x i ) + ( y c -
y i ) + z c 2
D'où 0
è + -
= ²
l l D
i ² ²
cos(')
i 2..
ll
0 i
llD + -
è)
i²
² ²
0
'os(
=arc
i 2..
l l
0 i
|
Nous notons la difficulté rencontrée pour la
détermination de l'angle ö'i par la
méthode géométrique.
2.1.2.2 Méthode par changement de repères
Nous commençons par calculer les coordonnées
cartésiennes de Oi dans le repère . Ensuite, nous utilisons les
relations entre coordonnées cartésiennes et (O',
x ', y', z')
sphériques comme précédemment.
Les coordonnées de O dans le repère lié au
cornet sont données par:
O O G
H
' ez
sin
=
'
á
Dès lors, les coordonnées de Oi dans le
repère lié au cornet résultent de :
O'Oi =O'O+OO
i
H
Soit :OO= G + G +
' i e z x i e x y i e
y
'
sin á
HG G G
O O
' = á+ +
-
' '(cos'sin '
i z i x i z y
e xeye e
áá)
sin
D'où :
xi
H+
yi
sin
á
yi cos
'
xOi
'
yOi
'
zOi
? ? ?
? ?
-
sin
á
? ? ? ? ?
á
(2)
? ?
Après avoir déterminé les
coordonnées cartésiennes, les coordonnées
sphériques se
déduisent d'une façon analogue que les angles ,
nous aurons alors d'après l'équation
H
+ yi
sin()
á
(? i ,ij i )
Eq3 .8
(Eq3.12): tg ö=
(')
i
|
-
|
á
y.sin()
i
D 'où
|
|
i
|
xi
|
y.sin()
á
arctgx)
i
ö=- '(i
Ce qui nous amène à écrire :
Eq3.9
.cos(') .sin().sin(')
öáöi
i i
- y
.cos()
á
è ' (
= arctg
i
)
xi
H
+
yi
sin()
á
IETR 28
De même, on a : .cos(').sin().sin(')
xy
i i i
öáöi
-
tg(') è=
i
.cos()
á
Les relations (Eq3 .7), (Eq3 .8) et (Eq3 .9) définis sent
donc à partir des paramètres
(0' i , q ' i )
géométriques du réseau. Ces angles
déterminent l'orientation du champ électrique incident.
En second lieu, nous avons implanté un programme sous
le logiciel Matlab (annexe C) pour nous fournir les angles voulus pour
différentes positions du cornet (différentes configurations de
réseau) tout en validant par quelques cas canoniques (incidence normale,
cellules situées dans le
plan vertical passant par le cornet). De ce fait, la
détermination de l'angle est directe pour le
qi
cas des cellules situés sur l'axe (O, Y) car le centre de
la cellule sera sur la droite (Oy) se qui se ramène à un angle
q i = 90° (figure3 .4, cellule i). De même, pour une
cellule située sur l'axe (O,
ð
X), l'angle ö'i sera de
90° (ou -90°). De plus, l'angle 0, pour la cellule centrale,
est de - á.
2
Pour le cas d'une incidence normale, l'angle 0 sera
égal à alpha=90°. Ainsi, les résultats obtenus par
nos méthodes de calculs correspondent à ces valeurs
théoriques.
II
O'
X Cellule i
Z
Oi Y Cellule j
X
Z
Oj Y
Fig.3.4 Cellules particulières dans le réseau
De plus, d'après la figure 3.5, pour la position choisie
du cornet, on vérifiera la symétrie pour les différents
angles.
100
50
0
-50
-100
|
|
40
20
0
-20
-40 30
|
|
|
|
q$ iOi
|
|
|
25
20
20
15
10 10
yi
5
00 xi
|
30
20
1
yi
00
|
25
20
15
1
5
xi
|
Représentation 3D de l'angle q$ i
|
Représentation 3D de l'angleOi
|
100
50
0
q$ i '
-50
-100 30
|
20
1
yi
|
00
|
5
|
1
|
25
20
15
xi
|
30
20
10
0
O'i -10
-20
-30 30
|
25
20
20
15
10 10
yi 5
00 xi
|
Représentation 3D de l'angle q$
'i
|
Représentation 3D de l'angleO 'i
|
Figure.3.5 Représentation 3D des angles
En conclusion, nous venons de vérifier que les deux
méthodes nous fournissent une correspondance des valeurs. De plus, nous
devons noter que la méthode géométrique nous a permis de
vérifier nos calculs car, comme on vient de le remarquer, elle ne peut
pas nous fournir les valeurs de tous les angles (l'angle ij 'i
).
2.2 Définition du vecteur champ électrique
incident
On utilise la définition au sens de Ludwig 3 [Ludwig73]
pour définir le champ électrique incident défini dans le
repère lié au cornet. On suppose que le cornet n'a pas de polar
croisée. En exploitant la définition de Ludwig et après
projection dans la base liée au réseau réflecteur (car
EE=
xréf( ' , ' )
è ö ..
E E
=
y réf( ' , ' )
è ö ..
E E
= ( ' , ' ).sin(').sin(').sin()cos(').si
öè áè
{ ]
[- n('.).cos()cos 2(').cos()}
öáö.á
-
z réf..
? ??
? ??
.sin('). cos('). cos(') cos('). sin(')
{ öè ööö
- }
.. . ..
. sin('). sin('). cos() cos('). sin(').sin()cos
2('). sin()
{ ]
- ?+ -
öè áè
öáö} ..
?á
. . .
Eq3.11
c'est dans cette base que sont définies toutes les
données de simulation), on obtient l'expression du champ
électrique dans la base indiquée.
En fait, on a :
JJJJJJJG JJG JG J
Eè.ö.=
Eréfè.ö.?ö .
eè+ ö . ö
( ' , ' ) (' , ').sin(').'cos('). '
e?? Eq3.10
?
où est le diagramme du rayonnement de la source primaire
(dans notre cas, c'est le
Eréf(?' . ,ij' . )
diagramme de rayonnement d'un cornet qui doit être fourni
par la société Alcatel Space).
JJG JJG JJG
Or, en général, un vecteur exprimé par (,
dans le repère est
axayaz(o,u x
,uy,u z )
, )T
JJG JJG JJG
transformé dans les coordonnées (, du repère
(
araèa ö
o, ur, uè, u ö )
, )T au moyen de la
matrice
suivante :
? ?
aa
? ? ?
r x
sin().cos() sin().sin() cos()
èöèöè ?
? ? ? ?
? ? =
acos().cos() cos().sin() sin() .
- ?
? ?
èöèöèa
è ? ?
? y
? ? ? ? ?
? ? ? ?
a ? - ? ?
sin() cos() 0
ööa
ö z
De ce fait, les vecteurs '
(e ' ,eö ) sont exprimés dans la
base (O',x',y',z') par:
è
eè= cos(è ' .
).cos(ö' . ).e x +
cos(è ' . ).sin(ö' . ).e y
'- sin(è ' . ).ez ' '
'
eö ' = - sin(ö' . ).e
x '+ cos(ö' . ).y
e
|
'
|
De plus, la projection des vecteurs ' dans la base (O, x, y, z)
donne :
(', y , )
exeez'
e z
JJG JJG
ee
= - cos().sin(). áá z y '
sin().cos().
? ?
? ??
e= -
y '
e e
x x
'=
e z
áá
e -
y
Donc, en combinant les expressions précédentes on
aura :
ey
JJG JJG
e =
è '
cos(' ). cos(' ).cos(' ). sin('). sin() sin('). cos().
è ö è ö áè
á
- +
[ ]
. . x . .
e .
?+ ?
. e z
[sin('). sin() cos('). sin('). cos()
è áè öá
- ] ...
? ? JJ
sin(').cos('). sin().cos('). cos().
?
ööáöá
e e e e
ö
= - - -
' . x . y . z Ainsi, l'expression du champ
électrique dans la base liée au réseau réflecteur
est la suivante :
2.2.1 Représentation du champ incident en
projection
Après avoir pris des cas particuliers pour
déterminer d'une façon évidente les différents
angles d'incidence et valider nos calculs, nous essayons de représenter
le champ incident en projection dans le plan du réseau. Nous
considérons déjà que le cornet n'a pas de polar
croisé. De la même façon que précédemment,
nous avons essayé d'implanter les équations calculées dans
notre programme (annexe C) pour encore une fois essayer d'exploiter la
représentation du champ incident en projection. Nous devons noter que
nous avons multiplié l'une des composantes du champ pour vraiment
pouvoir voir clairement la projection de ce dernier pour le cas d'une incidence
normale et d'un cornet très loin.
Cornet proche
Cornet très proche
Cornet en incidence normale
Cornet très loin
Figure.3.6. Représentation du champ incident en
projection
Nous remarquons que les lignes de champ sont parallèles
dans le cas d'un cornet très loin du centre du réseau. Par
contre, si le cornet est proche, les lignes de champ commencent à se
bomber.
3 Conclusion
Dans de ce chapitre, nous avons défini les
caractéristiques d'éclairement d'une cellule du réseau
pour améliorer nos simulations. De ce fait, deux méthodes
étaient mises au point et implémentées sur le logiciel
Matlab. Dans le chapitre suivant, d'une part nous décrirons notre
procédure de caractérisation des cellules déphaseuses et
d'autre part nous présenterons les résultats de simulation
obtenus.
Chapitre 4
Simulation de cellules déphaseuses
en incidence quelconque
Simulation de cellules déphaseuses en
incidence quelconque
1 Introduction
Notre travail, comme nous venons de le mentionner, s'inscrit
dans le cadre général de la modélisation du comportement
d'un réseau de cellules déphaseuses éclairées par
une onde plane en incidence quelconque (suivant la position de la cellule dans
le réseau).
Au cours des anciens travaux de recherche effectués
dans notre laboratoire, le travail s'est contenté de la mesure de la
phase du champ réfléchi en champ lointain (en incidence normale
à l'aide du logiciel HFSS) sans avoir des informations sur l'amplitude
de ce dernier. De ce fait, notre contribution consiste tout d'abord à
fournir le champ proche qui s'établit dans la cellule
modélisée, en amplitude et en phase (calcul du coefficient de
réflexion de la cellule). En général, d'après
[article pozar] nous calculons, dans un premier temps, en l'absence de cellule,
le champ réfléchi provenant du substrat et du plan de masse. Nous
obtenons donc une matrice de réflexion
(Eq.4. 1) permettant de calculer les composantes de ce champ
réfléchi à partir du champ
Er
JJG JJG
??
- Eq.4. 1
jkz
e
Er? ? ? ?
R E i
0
r i jkz
è èè è
E = = =
. ( , ). . .
R E e R
??
E r i i
?? ??
0 ? ?
i
E
ö öö ? ?
ö
è ö - ? ?
Dans un second temps, nous calculons une deuxième matrice
de réflexion due à la présence de la cellule seule
(Eq.4.2). Nous notons par s
Ele champ réfléchi obtenu.
JJG JJG
Es i
??SS E
??? ?
s ijkz
è
E= = =
s ii
SEeSS
.(,). . .
èè èöè
èö-??
? ? i
? ? ??
E ? ?
E
ö öèöö ? ?
ö
|
- Eq.4.2
jkz
e
|
Nous déduisons alors le champ total réfléchi
par le réseau réflecteur dans la direction spéculaire
à partir de l'équation (Eq.4.3)
E E E R è i ö i Sè i
ö i Eè i ö i e-
JJJG JJG JJG JJG
kz Eq.4.3
T r s ((,)( , ) ) .( , ).
ij
= + =+
Ainsi, nous pouvons déterminer la réponse en phase
de la cellule.
2 Procédure de caractérisation des
cellules déphaseuses en terme de matrice de réflexion
Notre procédure de validation est menée en deux
étapes. Ainsi, la première étape consiste à la
valider sur un plan de masse. La seconde étape de validation est
effectuée sur des cellules tirées du réseau réel. A
chaque étape de validation, nous traitons les deux cas d'incidence c'est
à dire : incidence normale et oblique. Dans ce qui suit, nous essayons
de présenter notre procédure dans le cas général
d'incidence et de structures à simuler, ensuite, nous présentons
les différents résultats. Pour cela, d'après la figure
4.1, nous commençons par donner une idée sur la topologie de
simulation d'une structure sous test.
2.1 La polarisation
L'onde incidente est décrite par la figure 4.2, elle est
caractérisée par la direction du champ électrique. Ce
champ est paramétré dans les simulations par ses composantes ,
et
ExEy
Ez . L'onde incidente est également
caractérisée par le vecteur de propagation qui est
k incident
paramétré dans les simulations par ces composantes
, et .
kx ky kz
L'angle d'incidence de l'onde d'excitation étant une
variable utilisée pour les simulations. Les conditions absorbantes
utilisées pour borner le volume de calcul seront des surfaces de
rayonnement (radiations surfaces) ou des Perfectly Matched Layer (PML).
2.2 Radiations surfaces et PML
En réalité, les PML sont
préférées aux conditions absorbantes habituelles car elles
sont des conditions absorbantes adaptées à des angles d'incidence
variables mais elles nécessitent des temps de calcul importants par
rapport à des surfaces de radiation classiques (figure 4.3). Ainsi,
notre objectif consiste d'une part à valider notre méthode en
utilisant des surfaces de radiation. Pour améliorer nos
résultats, nous pouvons utiliser des PML.
2.3 Conditions périodiques
Les conditions périodiques utilisées sont
constituées de deux paires de conditions représentées
à la figure 4.4. Ces conditions sont utilisées pour faire
correspondre à un déphasage près les champs sur la
condition « Slave » aux champs qui sont calculés sur la
condition
<< Master >>. Le déphasage entre les deux
plans est appelé << scan angle >>, il est utilisé
pour fixer la direction de l'onde réfléchie. Ce << scan
angle >> doit être paramétré et il doit être
relié à l'angle d'incidence de l'onde d'excitation.
2.4 Plans de mesure
Les plans de mesure utilisés pour les post-traitements
sont décrits à la figure 4.5. Ces plans de mesure sont
alignés perpendiculairement aux vecteurs de propagation de l'onde
incidente et réfléchie. Nous mesurons l'onde en champ proche. La
position géométrique des plans de mesures est
paramétrée pour suivre les variations de l'angle d'incidence.
Pour mesurer la phase sur ces plans, nous avons essayé
de programmer une macro qui nous permet ces calculs. En fait, cette mesure
correspond à la moyenne de la phase mesurée sur le plan de
mesure. L'amplitude du champ est mesurée de manière similaire.
Une idée sur la macro utilisée est donnée en annexe D.
Conditions périodiques
Onde incidente
Z
X
Y
Plan de masse
Structure sous test
Surface de radiation
Figure.4. 1. Description de la topologie de simulation d'une
structure
|
Radiation
Boite de base
|
|
Z
Y
|
|
Onde incidente
|
K_z K _incident
|
K_y
|
z
y
|
Volume de calcul
|
|
|
|
|
|
Figure.4.2. Description de l'onde incidente
|
Figure.4.3. Description de la surface de radiation
|
|
|
Z
|
|
Plan de mesure
perpendiculaire à l'onde réfléchie
|
K _incident
|
è
|
Master_Z
|
|
Master_Y
|
Slave_Y
Z
Slave_Z
Y
|
Plan de mesure
perpendiculaire à l'onde incidente
|
|
|
|
|
K_réfléchi
|
|
|
|
y
|
|
|
Figure.4.4. Description des conditions périodiques
|
Figure.4.5. Description des plans de mesure
|
2.5 Procédure de calcul
(post-traitement)
Lors de la détermination de la réponse en phase
d'une cellule, correspondant à la phase du coefficient de
réflexion de cette dernière, il est indispensable de fixer un
plan de référence où sera définie la phase de
l'onde réfléchie. Ce plan de référence est
situé à la surface de la cellule (z= 0). Le principe de calcul du
champ réfléchi en incidence normale est le suivant :
E réf
Y
Z
e-
jk0z
d
Einc
e
jk0 z
d1
Figure.4.6. Principe de calcul du champ réfléchi en
incidence normale
Nous pouvons alors écrire :
öplan = =öpland+
k.d
réf réf
() () 0
z 0
öplan z = =öpland
- k0.d 1
incinc
(0) ( 1 )
(Eq4.1) et (Eq4.2) donnent :
?z ==öplan z = -öplan
z = =öpland-öpland
+ kd + d1) (0) () () () ( )
0.(
réf inc réf inc
00 1
|
De même, le principe de calcul du champ
réfléchi en incidence oblique est le suivant :
C
A
q
d
plan de masse
B
q
q
H
Figure.4.7. Principe de calcul du champ réfléchi
en incidence oblique
D'après ci-dessus, l'onde réfléchie qui
arrive en C (point de calcul de la phase du champ réfléchi) a
bien parcouru la distance BC () depuis le plan de masse. Par contre, elle est
le
dréf
résultat de la réflexion de l'onde incidente
issue de A. Or, l'onde incidente en A a la même phase
que celle située en C (point de calcul de la phase du
champ incident). La distance qui la sépare du plan de masse est donc AB
().
d inc
Soit H le projeté orthogonal de C sur le plan de masse
(d = ). Dans le triangle BHC
CH
rectangle en H, nous aurons :
BCd
== (1) réfd cos()
è
Dans le triangle ABC rectangle en A, nous avons de même
:
AB = d= BCè= dè
(2)
inc. cos(2) .cos(2)
réf
? z = = öplan = -öplan = =
öplan-öpland + kd réf +
d) (3)
(0) () () () () 0 . (inc
réf inc réf inc
z z
00d réf inc
donc les équations (1), (2) et (3) donnent :
réf incréf incd)
? (0) (0) (0) () (
z planplanpland plan öööö
== = - = = - z z réf inc
+
|
2ðf d
. . c cos()
è
|
[]
1 cos(2)
+ è
|
3 Résultats et Validation de la
procédure
La validation de la méthodologie de simulation
s'effectue en deux étapes. La première étape consiste
à effectuer des simulations sur une structure simple constituée
d'un simple plan de masse. Ensuite, nous appliquons notre procédure sur
des cellules tirées du réseau réel. Bien
évidemment, lors de nos simulations, en premier lieu, nous faisons le
test en incidence normale. En second lieu, l'incidence est quelconque.
3.1 Simulation sur un plan de masse
Les résultats de simulation pour des angles d'incidence
è de 0° (incidence normale) à 40° (qui
correspond à l'incidence maximale pour notre position choisie du cornet,
voir chapitre 3) sont présentés à la figure 4.8. Ces
résultats regroupent le champ réfléchi par la structure
sous test (dans ce cas un plan de masse). La mesure du champ
réfléchi permet de calculer le coefficient de réflexion
associé à la réflexion sur ce plan de masse. Nous
comparons ce coefficient de réflexion obtenu par la simulation au
coefficient théorique de la structure sous test (sur un plan de masse la
phase réfléchie devra être de 180° et l'amplitude est
de 1).
Nous pouvons constater visuellement sur ces figures que le
champ réfléchi est toujours une onde plane, renvoyée dans
la direction spéculaire de la direction incidente (la direction de
l'onde incidente est décrite à la figure 3). La figure 4.9 et la
figure 4.10 présentent la phase et l'amplitude du coefficient de
réflexion, calculé au niveau du plan de masse. Nous comparons ce
résultat au coefficient théorique d'un plan de masse (ayant une
valeur de -1). Ces résultats mettent en évidence le très
bon comportement de la cellule modélisée en utilisant la
méthodologie de mesures incluant des surfaces de radiations et des
conditions périodiques. La figure 12 démontre que la phase du
coefficient de réflexion est très bien modélisée.
L'écart à la valeur théorique de 180° est
inférieur à 5° pour des angles d'incidence allant de 0°
à 40°. La figure 4 démontre que l'amplitude du coefficient
de réflexion est très bien modélisée. En effet,
l'écart est inférieur à 3% de la valeur
théorique.
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Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=0°
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Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=20°
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Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=40°
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Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=45°
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Figure.4.8. Variation des lignes de champ en fonction de
l'angle d'incidence
181
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180,5 180 179,5 179
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178,5 178
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0
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10
|
20
q
|
30 (°)
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40
|
50
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Figure.4.9. Représentation de la phase de pour des
angles d'incidence de 0° à 50°
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1,005
1
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0,995
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0,99
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Onde incidente Onde réfléchie
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0,985
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0,98 0,975
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0,97
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0,965
|
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0,96
0 10 20 30 40 50
Angle [°]
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Figure.4.10. Représentation de l'amplitude de E en
linéaire pour le champ incident et réfléchi pour
différentes incidences
|
3.2 Simulation de cellules tirées du réseau
réel
3.2.1 Cellule simple patch chargée par une
fente
La description de la cellule déphaseuse, tirée du
réseau réel, pour nos tests est représentée
à la figure 4.11. Cette cellule constitue la maille
élémentaire d'un réseau réflecteur. Elle est
composée d'un patch métallique de dimensions
xpatch et ypatch placé sur un
substrat de
permittivité . Le plan de masse est situé sous le
substrat de hauteur h (en fait la présence du
r
plan de masse arrière facilite la réalisation
pratique du réflecteur). Une ouverture est réalisée au
centre du patch avec l'ajout d'une fente de largeur a et de longueur
variable b. La fente est positionnée perpendiculairement
à la polarisation de l'onde incidente, c'est à dire pour une
polarisation suivant l'axe y la fente va s'ouvrir le long de l'axe x
(variation de la longueur b). cette cellule fonctionne sur le
principe d'un patch à longueur résonnante variable. En effet,
ouvrir la fente en faisant varier b vient perturber le trajet des courants
électriques sur la surface du patch. Quand la fente s'ouvre, les
courants contournent la fente, ce qui permet de rallonger artificiellement la
longueur résonnante de la cellule.
m
m
h
ypatch
b
a
år
z
xpatch
y
x
Figure.4. 11. Exemple de cellule simple patch
étudiée
De plus, comme on a déjà noté, pour
recomposer le fonctionnement d'un réseau infini, nous utilisons des
conditions périodiques déjà décrites.
3.2.1.1 Incidence normale :
La structure est simulée avec une onde plane incidente
polarisée selon l'axe y et se propageant dans la direction des z
négatifs. Une étude paramétrique a été
menée sur la longueur résonnante du patch ypatch
et sur l'épaisseur du substrat afin de retrouver les
résultas fournis en champ lointain [CadoretF05,Cadoret04]. La largeur du
patch est de xpatch= 13.5 mm et le substrat
utilisé est le Duroid. La dimension b correspond à la
longueur variable de la fente dont la largeur est fixée à a= 1
mm.
La figure 4.12 représente la cartographie du champ
électrique dans le plan yoz, pour le cas d'une incidence normale. Ce
résultat présente le champ réfléchi par la
structure sous test.
Figure.4. 12. Cartographie du champ électrique
réfléchi
Nous constatons visuellement sur cette figure que le champ
réfléchi est touj ours une onde plane, renvoyée dans la
direction image de la direction d'incidence (direction normale).
La figure suivante montre la bonne correspondance de notre
méthode de calcul en champ proche que celle en champ lointain.
300 250 200 150 100 50
0
2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 Longueur de la fente b[mm]
Champ proche Champ lointain
Figure.4.13. Déphasage pour une longueur ypatch de 6 mm
résonnante une hauteur h de 3.175mm
En effet, l'écart entre les deux courbes est
inférieur à 3°, ce qui peut se voir plus clairement sur la
figure 4.14 pour une marge de longueur de fente b [3mm, 5mm].
260 250 240 230 220 210 200
3 4 5
Longueur de fente b[mm]
Champ poche Champ lointain
Figure.4.14. vue éclatée d'une loi de phase pour
une longueur ypatch de 6 mm résonnante une hauteur h de 3.175mm
Ainsi, nous avons étudié la dispersion de phase (en
champ proche) sur une bande de fréquence de [12GHz, 13GHz] (voir figure
ci-dessous)
300 250 200 150 100 50 0
2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 Longueur de fente b[mm]
12GHz 12.5GHz 13GHz
Figure.4. 15 Déphasage en fonction de la
fréquence pour une longueur ypatch de 6 mm résonnante et une
hauteur h de 3.175mm
Pareil, la figure 4.16 montre la bonne correspondance de notre
méthode de calcul en champ proche qu'en champ lointain pour une longueur
ypatch de 6 mm résonnante une hauteur h de 1mm
- 100
- 200
- 300
200
100
0
3 5 7 9 11
Longueur de fente b[mm]
Champ proche Champ lointain
Figure.4.16. Déphasage pour une longueur ypatch de 6 mm
résonnante une hauteur h de 1mm
De même, l'écart entre les deux courbes est
inférieur à 3° et cela se voit plus clairement sur la figure
4.17 qui nous donne une figure éclatée pour une marge de longueur
de fente b[3mm,6mm].
-185
-190
-195
-200
-205
-210
Longueur de fente b[mm]
7 8 9
Champ proche Champ lointain
Figure.4. 17 Vue éclatée d'une loi de phase en
incidence normale
D'après la figure 4.18, et dans le cas d'une longueur
résonnante ypatch de 10 mm et une hauteur du substrat h de 3.175mm, nous
trouvons une bonne correspondance des résultats de simulation en champ
proche qu'en champ lointain.
200
150
100
-50
50
0
Longueur de fente b[mm]
Champ proche Champ lointain
Figure.4. 18. Déphasage pour une longueur ypatch de 10 mm
résonnante une hauteur h de 3.175mm
3.2.1.2 Incidence oblique :
Puisque notre travail consiste à valider notre
procédure de caractérisation des cellules déphaseuses, on
a effectué nos simulations pour le cas d'une longueur résonnante
ypatch de 6 mm et une hauteur de 3.175 mm. Les cartographies du
champ électrique, pour des angles d'incidence è allant
jusqu'à 40° et pour une longueur de fente b=5mm, sont
présentées dans la figure 4.19. Ces résultats
présentent le champ réfléchi par la structure sous test.
Nous constatons visuellement sur ces figures que le champ
réfléchi est une onde plane, renvoyée dans la direction
image de la direction d'incidence.
Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=10°
Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=20°
Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=30°
Représentation des lignes de champ pour un
angle d'incidence è=40°
Figure.4.19. Variation des lignes de champ en fonction de
l'angle d'incidence
Nous devons noter que nous avons effectué une
étude paramétrique pour déterminer la distance où
nous devons se mettre à chaque fois pour vraiment avoir une bonne
stabilité de l'onde et donc avoir une onde plane (pour effectuer nos
calculs et post-traitement) à cause des modes supérieurs de
Floquet qui apparaissent et qui causent une perturbation du champ
réfléchi.
250 200 150 100 50 0
2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 Longueur de fente b [mm]
Champ proche Champ lointain
Figure.4.20 Déphasage pour un angle d'incidence de
10°
|
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300
|
|
200 100 0 -100 -200
|
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Champ proche Champ lointain
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1 2 3 4 5 6 7 8 9 1011 Longueur de fente b[mm]
|
|
Figure.4.21 Déphasage pour un angle d'incidence de
20°
|
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250
|
|
200
150
100
50
0
|
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|
|
|
Champ proche Champ lointain
|
|
|
|
|
|
Longueur de fente b[mm]
|
|
Figure.4.22 Déphasage pour un angle d'incidence de
30°
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200
|
150 100
50
0 -50 -100 -150 -200
|
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|
|
|
|
|
|
|
|
Champ
|
|
lointain
|
|
Champ
|
|
|
|
|
|
|
1 3 5 7 9 11
Longueur de fente b[mm]
|
Figure.4.23 Déphasage pour un angle d'incidence de
40°
|
De plus, les figures 4.20 , 4.21 ,4.22 et 4.23 montrent encore
une fois la bonne correspondance de notre procédure de simulation en
champ proche que celle en champ lointain. En effet, l'écart maximal
entre les deux méthodes est de l'ordre de 6°. Cela se voit plus
clairement sur la figure 4.24 qui nous donne une figure éclatée
pour une marge de longueur de fente b [3mm, 6mm].
200 195 190 185 180
3 4 5 6
Longueur de fente b[mm]
Champ lointain Champ proche
Figure.4.24 Vue éclatée d'une loi de phase pour un
angle de 20°
3.2.2 Cellule double patch chargée par deux demi
fentes
Pour les réseaux réflecteurs, nous avons besoin,
comme nous l'avons vu, de couvrir une gamme de phase de l'ordre de 360°.
Néanmoins, utiliser seulement la longueur b comme degré
de liberté, conduit à une gamme de phase réduite. Ceci
pourra être résolu en permettant à la phase d'effectuer
plusieurs sauts. Ainsi, l'utilisation d'un deuxième résonateur
est donc nécessaire. Par ailleurs, il est possible de réaliser
des structures à plusieurs résonances en superposant plusieurs
résonateurs de longueurs différentes. L'inconvénient de
cette technique réside dans la complexité des réalisations
des structures multicouches. Pour cela, au cours des précédents
travaux de recherche, il était choisi de travailler avec des structures
simple couche, et de combiner plusieurs résonateurs positionnés
cote à cote dans une même maille. En effet, il est possible de
placer deux résonateurs dans une même maille et de les
contrôler par une fente commune.
La description de la cellule déphaseuse choisie pour
nos tests est représentée à la figure 4.25. Cette
structure repose sur les mêmes principes que ceux de la structure simple
patch, c'est à dire une augmentation de l'ouverture b de la
fente va permettre la résonance de la structure. Elle possède
deux longueurs résonnantes de patch et elle va résonner pour deux
longueurs de fente différentes et entraînant ainsi deux sauts de
phase.
z
conditions périodiques de floquet entourant la cellule
y
x
y
x
Figure.4.25. Exemple de cellule double patch
étudiée
Notre travail consiste à valider notre procédure
de caractérisation des cellules déphaseuses, nous avons
effectué nos simulations pour le cas d'une longueur résonnante
ypatch de 13.5 mm et une hauteur de 1 mm. En incidence
normale, nous obtenons une bonne correspondance pour la loi de phase en champ
proche qu'en champ lointain (figure 4.25).
-100
-200
-300
200
100
0
1 3 5 8 12
Longueur de fente b[mm]
Champ proche Champ lointain
Figure.4.25. Déphasage pour une longueur ypatch
13.5mm et une hauteur h de 1mm
Par ailleurs, parmi nos perspectives nous allons appliquer
notre procédure de caractérisation (en incidence oblique)
à ce type de cellules pour étudier le mécanisme de
transfert entre les composantes du champ, ainsi nous regarderons le niveau de
polarisation croisée rayonnée.
4 Conclusion
Notre procédure de caractérisation nous fournie
de bons résultats en concordances avec ceux effectués au cours
des précédents travaux de recherche effectués au sein de
notre laboratoire. De plus, cette procédure permet d'avoir des
informations sur l'amplitude du champ réfléchi (voir annexe E) ce
qui va nous permettre dans une seconde étape à déterminer
la valeur des coefficients de réflexion pour interfacer nos
résultats avec ceux élaborés par le laboratoire u
wavelab en Italie dans le cadre de notre collaboration avec la
société Alcatel Alenia Space
pour une étude avec l'Agence Spatiale Européenne
(ESA).
Conclusion générale et
perspectives
Au cours de ce mémoire, une étude
bibliographique sur les réseaux réflecteurs a été
réalisée. En effet, au début, nous avons
présenté leur principe de fonctionnement ainsi que leurs
avantages et inconvénients. Ensuite, une présentation des
fondements théoriques des outils de simulation utilisés a
été élaborée. Pour cela, une idée assez
complète sur les approches développées au sein de notre
laboratoire pour les études des cellules déphaseuses était
développée dans le deuxième chapitre.
De plus, nous avons défini les caractéristiques
d'éclairement d'une cellule du réseau pour améliorer nos
simulations. De ce fait, deux méthodes étaient mises au point et
implémentées sur le logiciel Matlab. Dans le dernier chapitre,
nous avons décrit, d'une part notre procédure de
caractérisation des cellules déphaseuses et d'autre part les
résultats de simulation obtenus sous le logiciel HFSS.
De même, nous proposons, comme perspective à ce
travail, d'étudier le mécanisme de transfert entre les
composantes du champ, ainsi que d'exploiter le niveau de polarisation
croisée rayonnée.
Bibliographie
[Pozar97] D.Pozar et al.. `design of millimiter wave Microstrip
Reflectarray' IEEE
Transaction on Antenna and propagation, Vol 45, Nov2, February
1997 [Taflove95] A. Taflove `computational Electrodynamics : The infinite
Difference Time
Domain method' Artech House, Boston, MA, 1995
[Taflove98] A. Taflove, redacteur `advances in computational
Electrodynamics: The infinite Difference Time Domain method' Artech House,
Boston, MA, 1998
[Taflove00] A. Taflove et al. . `advances in computational
Electrodynamics: The infinite
Difference Time Domain method, 2 ed' Artech House, Boston, MA,
1998 [Girard03] `Conception et simulation de cellules rayonnantes pour
réseau réflecteur à
polarisation circulaire', Thèse de Doctorat soutenue le 13
novembre 2003. [Alex02] `Etude d'antennes à Résonateur
Diélectrique à l'aide de la FDTD et de la
MR/FDTD', Thèse de Doctorat soutenue le 13 Mai 2002.
[CadoretF05] D. Cadoret et al.. `A new reflectarray cell using
microstrip patches loaded with slots', MOTL, Février 2005, Volume 44,
p 270-272.
[Cadoret04] D.Cadoret et al.. 'New reflectarray cell using
coupled microstrip patches loaded with slots', JINA Journée
Internationale de Nice sur les Antennes, 8-10 Novembre 2004.
[CadoretM05] D.Cadoret et al.. `Analyse de cellules de
réseaux réflecteurs environnées incluant les effets de
couplage et d'incidence', JNM Journée Nationale Micro-ondes, 11, 12 et
13 Mai 2005.
[CadoretA05] D.Cadoret et al.. `An FDTD method for
reflectarray cells simulation including coupling with surrounding cells and
wave incidence, ACES Internationnal Conference on Wirelles Communications and
Applied Computational Electromagnetics, April 367, 2005.
[Huang96] J.Huang `Capabilities of Printed Reflectarray
Antennas', IEEE Transaction on Antenna and propagation, 13 1-134, 1996
[Huang91] J.Huang `Microstrip Reflectarray, IEEE Transaction on
Antenna and propagation, 612-611, 1991
[Huang95] J.Huang `Analysis of a Microstrip Reflectarray Antenna
for Microspacecraft
Applications', IEEE Transaction on Antenna and propagation,
612-611, 1991 [Encinar01] J.Encinar `Design of Two-Layer Printed Reflectarrays
Using Patches of Variable
Size', IEEE Transaction on Antenna and propagation, Vol 49,
1403-1407 Octobre
2001
[Encinar99] J. Encinar `Design of Two-Layer Printed Reflectarrays
for bandwidth
enhancement', Antenna and propagation Society, IEEEx
Internationnal Symposium, 1999, p 1164-1167
[Chang92] D.C. Chang et M.C. Chang `Microstrip reflectarray with
offset feed', Electronics Letters, Juillet 1992, vol. 28, NO 16, P 1489-149
1, 1992
[Bérenger94] J. Bérenger `A Perfectly matched
layer for the absorption of electromagneti
waves', Journal of Computationnal Physics, 1994, vol 114, NO 1, p
185-200 [Agustin03] J. Agustin et al..' Efficient phase only synthesis of
contoured beam patterns for
very large reflectarrays', Décembre 2003
[Hadden00] J. Hadden ' Modeling phased arrays antennas in Ansoft
HFSS', IEEE Transaction on Antenna and propagation, p 323-328, 2000
[Ludwig73] A.C Ludwig ' The definition of cross polarisation',
IEEE Transaction on Antenna and propagation, p 116-119, Janvier 1973
[Hansen87] R.C Hansen ' Cross polarisation of microstrip patch
antennas', IEEE Transaction on Antenna and propagation, p 731 et 732, Juin
1987
[Floquet1879] G. Floquet `Annales Scientifique de l'École
Normale Supérieure. Paris'. P 3-132
[Chenakin97] A.V. Chenakin et al.. `A new hybrid technology for
millimiter-wave integrated circuits' IEEE, MTT-S Digest 1997, p 921-924.
Annexe
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